介紹徠卡正置顯微鏡的角度測(cè)量法

　　徠卡正置顯微鏡采用了反射和透射兩種照明形式，并配有偏光裝置。在反射光照明下可進(jìn)行明暗場(chǎng)和偏光觀察，又可在透射光照明下作明場(chǎng)觀察，可選配攝影裝置與顯微鏡相連接拍攝照片等。

　　角度測(cè)量法是常用的方法，是顯微鏡技術(shù)較為復(fù)雜的技術(shù)手段。如果一個(gè)晶體的被測(cè)角的每邊條線的兩端均在一個(gè)平面上時(shí)，還可以取得較為準(zhǔn)確的數(shù)值。但是在徠卡正置顯微鏡的物質(zhì)世界并非都是如此簡(jiǎn)單，往往被測(cè)角的兩邊直線中的一條直線持有一定的傾斜度。這種情況下只有用微分學(xué)方法演算，才能得到近似正確的數(shù)據(jù)。我們用徠卡顯微鏡直觀地進(jìn)行測(cè)量時(shí)，只靠測(cè)角目鏡或旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)來取得數(shù)據(jù)。目鏡內(nèi)有十字劃線，如果目鏡內(nèi)有十字形測(cè)微尺就更好。具體測(cè)角時(shí)先把十字劃線的X或Y對(duì)準(zhǔn)被測(cè)角的一邊直線。記錄刻度的數(shù)字，轉(zhuǎn)動(dòng)目鏡或轉(zhuǎn)動(dòng)標(biāo)本，再將另一條邊線對(duì)準(zhǔn)十字劃線的同一軸，記錄刻度數(shù)字，這樣可以求得被測(cè)角度。

　　徠卡正置顯微鏡可供工廠、高等院校、科研機(jī)構(gòu)及電子工業(yè)部門作金相、礦相、晶體、微電子等方面的試驗(yàn)與分析研究之用。