本文闡述了如何使用光學顯微鏡和激光誘導擊穿光譜(LIBS)相結合的二合一方法識別制藥行業(yè)中的微粒污染物。藥物和靜脈注射溶液等藥品的微粒污染可能會導致嚴重問題。為消除藥品微粒污染,最重要的是能夠快速、準確地識別污染,甚至能夠快速找到污染源。激光誘導擊穿光譜可以對材料進行快速的多元素分析。本文介紹的二合一方法可以同時提供目視檢查(顏色和形狀)和化學(成分)分析,可快速、可靠地識別非監(jiān)管環(huán)境中的微粒污染物。本文討論的解決方案還可以用于制藥工業(yè)的污染物識別和根本原因分析。
微粒污染識別可以分為幾個步驟。第一步是用光學顯微鏡進行目視檢查,以確定微粒的大小、形狀、顯微結構和顏色,并對它們進行計數(shù)。下一步是對微粒進行化學分析,以確定成分,更容易找到微粒來源(根本原因分析)。微?;瘜W分析通常使用SEM/EDS進行,然而,SEM/EDS需要將樣品轉移到真空室將污染微粒分離出來,成本高昂、耗時長。二合一方法對微粒的目視檢查和化學分析更有效(見圖1)。
圖1:二合一方法以及SEM/EDS的根本原因分析流程比較。二合一方法不需要額外進行樣品制備,也不需要使用多臺儀器,分析在空氣中進行,而不需要在真空中進行,目視檢查和化學分析更快。
使用二合一解決方案,如徠卡顯微系統(tǒng)的 DM6 M LIBS,比SEM/EDS更具優(yōu)勢(圖1)。例如,使用LIBS元素分析可以看到微粒的真實顏色,從而快速有效地確定污染源。當僅憑目視檢查還不夠時,用戶可以根據(jù)LIBS光譜中的光譜指紋和特征信號來識別微粒。因此,LIBS可以提供與藥品微粒污染相關的有用元素信息。
僅進行目視檢查時,不同金屬微粒(高合金或低合金鋼、鋁合金等)的外觀非常相似,有時很難確定微粒污染源。在這種情況下,對微粒進行瞬時成分分析將極有助于有效找到微粒來源,從而有效減少藥品中的污染物。然而,如上所述,使用SEM/EDS進行成分分析,過程緩慢、繁瑣。
使用二合一解決方案,如徠卡顯微系統(tǒng)的 DM6 M LIBS,比SEM/EDS更具優(yōu)勢(圖1)。例如,使用LIBS元素分析可以看到微粒的真實顏色,從而快速有效地確定污染源。當僅憑目視檢查還不夠時,用戶可以根據(jù)LIBS光譜中的光譜指紋和特征信號來識別微粒。因此,LIBS可以提供與藥品微粒污染相關的有用元素信息。
在下圖2A-E中,用光學顯微鏡對不同材料組成的微粒進行成像,并使用 DM6 M LIBS 二合一方法用LIBS進行分析。
圖2A:可能來自容器蓋的鋁(Al)合金微粒
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